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회사 뉴스 VLF 히포트 테스터의 일반적인 결함 및 작동 원칙

VLF 히포트 테스터의 일반적인 결함 및 작동 원칙

2024-09-21
Latest company news about VLF 히포트 테스터의 일반적인 결함 및 작동 원칙

VLF 히포트 테스터의 작동 원리:

VLF (Very Low Frequency) 히포트 테스트케이블, 트랜스포머 및 단열기 등의 고전압 전기 장비의 변압 강도 테스트를 수행하도록 설계되었습니다.전력 주파수 (50/60 Hz) 에서 작동하는 전통적인 AC hipot tester와 달리, VLF 테스트는 일반적으로 0.1 Hz에서 0.1 kHz 범위의 낮은 주파수 전압을 사용하여 테스트 중인 장비 (EUT) 에 높은 전압을 적용합니다.

VLF 히포트 테스터는 매우 낮은 주파수 교류 전압을 생성하여 테스트 장비의 단열에 적용됩니다.이 낮은 주파수는 용량 충전 전류를 최소화하기 때문에 유리합니다.특히 긴 케이블이나 높은 용량으로 큰 장비를 테스트하는 데 유용합니다.테스트는 일반적으로 필요한 테스트 전압으로 낮은 입력 전압을 단계로 높은 전압 변압자 또는 인버터를 사용하여 작동.

 

VLF 히포트 테스터의 일반적인 오류:

  1. 출력 전압 부족

    • 이유: 고전압 트랜스포머가 고장 작동하거나 내부 콘덴시터에 문제가 있거나 제어 회로에서 장애가 발생하면 출력 전압이 충분하지 않습니다.
    • 해결책: 출력 전압 설정을 확인하고 변압기 및 제어 회로를 결함 또는 손상 여부를 검사합니다. 검사기의 캘리브레이션을 확인합니다.
  2. 높은 누출 전류

    • 이유: 시험 중 높은 누출 전류 판독은 일반적으로 시험 대상의 단열에 결함이 있음을 시사합니다 (예를 들어 케이블 또는 장비 단열의 고장 또는 악화).
    • 해결책: 테스트 장치에서 과도한 누출 전류가 나타나면 테스트 중인 장비가 결함이있을 가능성이 있습니다. 테스트 장치의 누출 전류 계측기는 캘리브레이션 문제 여부를 확인해야합니다.
  3. 과전압 오차 또는 오류

    • 이유: VLF 테스트는 과전압 상태가 감지되면 작동을 시작하거나 중단 할 수 있습니다. 이것은 EUT의 오류, 테스트의 전압 조절 시스템의 장애로 인해 발생할 수 있습니다.또는 전압 설정의 잘못된 구성.
    • 해결책: 테스트 전압 설정을 확인하고 테스트 중인 장비에 적합한지 확인합니다. EUT의 결함을 확인하고 과전압 보호 문제에 대한 테스트 장치를 검사하십시오.
  4. 출력 전압이 없습니다.

    • 이유: 이것은 전원 공급 문제, 깨진 안전 장치 또는 고장있는 내부 연결 등 주요 회로 구성 요소의 장애로 인해 발생할 수 있습니다.
    • 해결책: 전원 공급 연결을 확인하고, 부러진 피저를 교체하고, 내부 배선과 연결을 계속적으로 검사하십시오.
  5. 부정확 한 검사 결과

    • 이유: 테스트 중 부정확한 판독은 전압 측정 회로 또는 참조 전극과 같은 결함이있는 구성 요소로 인해 발생할 수 있습니다.
    • 해결책: 측정 시스템을 확인하고 전압 센서 및 기준 연결의 작동을 확인하여 검사기의 캘리브레이션을 수행합니다.
  6. 오작동적 인 표시 또는 표시 하지 않는 것

    • 이유: 오작동적 인 디스플레이 또는 전혀 표시되지 않는 것은 제어판, 느슨한 연결 또는 결함된 디스플레이 화면으로 인해 발생할 수 있습니다.
    • 해결책: 제어판 및 디스플레이 배선에서 오류가 있는지 확인합니다. 디스플레이가 반응하지 않는 경우 제어 장치 또는 화면을 교체하는 것을 고려하십시오.
  7. 과열

    • 이유: VLF 히포트 테스터의 과열은 적절한 냉각, 열기 공급의 부족 또는 고장난 냉각 시스템 없이 장기 사용으로 인해 발생할 수 있습니다.
    • 해결책: 테스트 장치가 지정된 작동 한계 내에서 사용되고 충분한 환기가 있는지 확인합니다. 냉각 팬이나 히트 싱크가 제대로 작동하는지 확인하십시오.
  8. 소음 또는 간섭

    • 이유: 고주파 소음 또는 전기 간섭은 테스트 환경에서 잘못된 지식 또는 전자기 간섭 (EMI) 으로 인해 발생할 수 있습니다.
    • 해결책: VLF 검사장과 테스트 중인 장비의 모두 가식 상태를 확인합니다. 추가로, 테스트 환경이 전자기 간섭 원자로부터 자유로울 수 있는지 확인하십시오.
  9. 시험 주기를 완료 하지 않는 경우

    • 이유: 테스트자는 고장난 마이크로 컨트롤러 또는 센서 또는 타이밍 회로 문제와 같은 소프트웨어 또는 하드웨어 문제로 인해 테스트 사이클을 완료하지 못할 수 있습니다.
    • 해결책: 장애의 원인을 확인하고 문제 해결을 위해 진단 테스트를 수행합니다. 소프트웨어를 업데이트하거나 재설정하고 하드웨어 장애를 확인합니다.
       
      일반적 인 잘못 이유 해결책
      출력 전압 부족 고전압 변압기 고장, 내부 콘덴서 문제, 제어 회로 고장 출력 전압 설정을 확인하고 변압기 및 제어 회로를 검사하고 테스트를 캘리브레이트하십시오.
      높은 누출 전류 시험 대상의 단열의 결함, 고장 또는 악화 고립 장치의 고장을 검사하고 누출 전류 계측기 캘리브레이션을 확인합니다.
      과전압 오차 또는 오류 EUT에서 과전압 상태 또는 전압 설정의 잘못된 구성 테스트 전압 설정을 확인하고 EUT의 고장을 검사하고 과압 보호 시스템을 확인합니다.
      출력 전압이 없습니다. 전원 공급 문제, 퓨즈 고장, 또는 고장난 내부 연결. 전원 연결을 확인하고, 퓨즈를 교체하고, 내부 전선을 검사해
      부정확 한 검사 결과 결함된 부품, 전압 측정 회로 또는 참조 전극 테스트를 캘리브레이트하고 전압 센서를 확인하고 적절한 참조 연결을 확인합니다.
      오작동적 인 표시 또는 표시 하지 않는 것 작동이 안되는 제어판, 느슨한 연결 또는 고장난 디스플레이 제어판과 전선을 검사하고, 반응하지 않는 디스플레이 또는 제어 단위를 필요한 경우 교체합니다.
      과열 냉각 장치 없이 오랫동안 사용하거나 환기가 잘 되지 않거나 냉각 시스템이 고장 났을 경우 충분한 환기를 보장하고, 팬이나 히트 싱크가 제대로 작동하는지 확인하고, 과용을 피하십시오.
      소음 또는 간섭 테스트 환경의 잘못된 지식 또는 전자기 간섭 테스터와 장비의 기어닝을 확인하고, 환경이 EMI가 없는지 확인하세요.
      테스트 사이클을 완료하지 않는 경우 소프트웨어 또는 하드웨어 문제, 작동 장애 마이크로 컨트롤러 또는 센서 또는 타이밍 회로 문제. 진단 테스트를 수행하고, 소프트웨어를 리셋하거나 업데이트하고, 하드웨어 장애를 확인합니다.

VLF 히포트 테스터 유지보수를 위한 주요 고려사항:

  • 루틴 캘리브레이션: 검사기의 정기적 인 캘리브레이션은 정확한 테스트 결과를 보장하는 데 필수적입니다. 이것은 잠재적 인 장애를 조기에 발견하는 데 도움이됩니다.
  • 적절 한 보관: VLF 검사기를 건조하고 시원한 환경에서 보관하여 과도한 습도 또는 온도 변동으로 인한 잠재적 손상을 피합니다.
  • 테스트 환경: 잘못된 결과를 피하기 위해 항상 안정적인 전압과 최소한의 전자기 간섭을 가진 환경에서 테스트를 수행합니다.
  • 안전: VLF 히포트 검사기는 매우 높은 전압을 발생시키고 조심스럽게 사용해야합니다. 항상 제조업체의 작동, 안전 및 유지 보수 지침을 따르십시오.모든 직원이 적절한 훈련을 받고 필요한 개인 보호 장비 (PPE) 를 갖추고 있는지 확인합니다..

VLF Hipot Tester를 유지보수하고 일반적인 오류를 신속하게 해결함으로써 운영자는 신뢰할 수 있고 안전한 고전압 테스트를 보장 할 수 있습니다.전기 장비의 무결성 및 신뢰성 유지.

행사
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팩스: 86-27-65526007
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